NF C96-022-34-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:能量循环.
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 16:17:19 浏览:9765
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【英文标准名称】:Semiconducteurdevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part34:powercycling.
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:能量循环.
【标准号】:NFC96-022-34-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-05-01
【实施或试行日期】:2011-05-20
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climatictests;Components;Cyclicloading;Definitions;Electricload;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Failure;Integratedcircuits;Loadalternation;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:能量循环.
【标准号】:NFC96-022-34-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-05-01
【实施或试行日期】:2011-05-20
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climatictests;Components;Cyclicloading;Definitions;Electricload;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Failure;Integratedcircuits;Loadalternation;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Simulation;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P;A4
【正文语种】:其他
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